なかのにっき

電源・SATA HDD を取り付けて bios では認識、kernel では単純には認識せず。 ドライバはなんじゃろ、と徹底入門を調べたら、config のときに "Intel PIIX/ICH SATA support" を Y にする旨が書いてあった。 さてこれの名前は…とカーネルソースアーカイブを見るも、 2.6 って Configure.help じゃなくなっていたのだな (浦島太郎)。

こういうとき google が無いと激しく迂遠なことをする破目になるのだが、 結局ソース以下の drivers/scsi/Kconfig に書いてあった。 ほんで modprobe ata_piix して dmesg を見たら

ata1: SATA max UDMA/133 cmd 0xEFE0 ctl 0xEFAE bmdma 0xEF90 irq 177
ata2: SATA max UDMA/133 cmd 0xEFA0 ctl 0xEFAA bmdma 0xEF98 irq 177
ata1: dev 0 cfg 49:2f00 82:346b 83:7d01 84:4023 85:3469 86:3c01 87:4023 88:207f
ata1: dev 0 ATA, max UDMA/133, 586072368 sectors: lba48
ata1: dev 0 configured for UDMA/133
scsi0 : ata_piix
ata2: SATA port has no device.
scsi1 : ata_piix
  Vendor: ATA       Model: ST3300831AS       Rev: 3.03
  Type:   Direct-Access                      ANSI SCSI revision: 05

という感じでどうやら認識したらしい。 /etc/modules へ追加。

デバイス名が不明だったので、wild guess で fdisk /dev/sda したら、 どうやら当たりだった模様。何もせずに q して dmesg を見たら、

SCSI device sda: 586072368 512-byte hdwr sectors (300069 MB)
SCSI device sda: drive cache: write back
 /dev/scsi/host0/bus0/target0/lun0: unknown partition table
Attached scsi disk sda at scsi0, channel 0, id 0, lun 0

というのが追加されていた。 というわけで久々に partition 分割、

 デバイス Boot      Start         End      Blocks   Id  System
/dev/sda1               1        7125    57231531   83  Linux
/dev/sda2            7126       11875    38154375   83  Linux
/dev/sda3           11876       36481   197647695   83  Linux

のようにして (みみっちい) sda1 を /ohome に mount、NFS export。

古いコンテンツを

% foreach y (`seq 1995 2005`)
foreach? sudo rsync -axvH /home/${y}home /ohome
foreach? end

という感じで移動。samba は symlink も follow する設定になってたみたいなので、

% cd /home
% foreach y (`seq 1995 2005`)
foreach? sudo mv ${y}home $y
foreach? sudo ln -s /ohome/${y}home
foreach? end

したあと、1995/〜2005/ を rm -rf。 /home の使用率は 92%→68% へ。あんまり減らんな。 バックアップに /ohome を追加するのは、次の full backup のタイミングで。

ついでに LAN 側の NIC を DEC 21140-AF のやつから ALTIMA AC1002KPB のやつ (Buffalo LGY-PCI32-GT) に変更。 こっちのドライバは tg3。 eth0 で使うので、/etc/modules で de4x5 の前に書く。 おお、確かになんか速くなった気がする。

3mm 厚のポリエチレン表面に 2.2keV の重水素分子イオンを 4x10^16 D+ cm^-2 当てて、 電荷中和の有無によって表面が受けるダメージを評価した話らしい。 RBS、接触角測定、XPS、AFM。 中和すると roghness が減るけど、しないと増える、というのはわかりやすい。 あと C-O, C=O, O-C=O などの入りかたが中和によって違う、とか。

10 pages 41 refs の invited review。cvd による成長、精製あたりが主な議論。 マイクロカテーテルへの応用なども。

EB で飛ばした MgF2 に Kaufman イオン源から 300V 20uA/cm^2 の argon assist をして、基板温度とともに透過スペクトル・XRD・TEM 像などに与える影響を調べた話。 deporate は 0.2 nm/s で、膜厚は 765nm。アシスト時の圧力は 1.33x10^-2 Pa。 ion assist すると F poor になり、grain が小さく、 短波長側 (<400nm) での透過率が落ちる。あまり良いことないのか？(^_^;

レーザーアブレーションプラズマを分光することで、 もとの表面の組成を調べようという話。対象は Na/PMMA、 erosion が 0.86nm/shot のレーザー強度で、 420ppm を doping したところで±10〜20% くらいの信号が出ている。 まあ微量なら良いのかな。多くなると matrix effect でわやになりそうだ。

HOPG に 0.24 MeV の C_n^+ やら Al_n^+ やらをぶつけ、normal に出てくる secondary electron の energy spectrum を取った話。 クラスタあたりではなく原子あたりの二次電子カウントを取ると、 n が大きくなると yield が減る。図 5,6 は per cluster での話にしてるので、 最初はどうも変だと思った。 んで減少の理由として、forward emission した electron がクラスタイオン起源の positive charge に捕まるからではないか、という予想をしている。